晶圆外观检测机 Z21130
设备功能
⚪ 晶圆类:Mini
LED晶圆、光敏二极管。
⚪ 正面:电极(缺陷、刮伤/刮痕、脏污、多金、鼓泡、方向)发光区(多胞、剥落、磊晶、崩边、变形、残留)隔离槽(脏污、划裂、超标、划伤、崩缺)。
⚪ 反面:切割不良、凹凸点、崩缺、失晶。
产品亮点
⚪ 搭配3种倍率镜组,使用者可针对晶粒或瑕疵尺寸选择检测倍率,系统搭配最小解析度为0.5um,通常可以检测1.5um左右的瑕疵尺寸。
⚪ 使用先进的打光成像技术,结合明暗光场方式和光源角度、亮度及取像模式,可对应不同种类缺陷成像。
⚪所有检测结果都会存档记录,提供瑕疵原始资料有助于分析生产瑕疵优势。